技术指标

厂商:Oerlikon

型号: 790+

 

设备简介

1.300℃低温即可淀积高质量薄膜,均匀性和重复性好;

2.氧化硅膜厚度任意可控:从几十纳米到几十微米都可淀积,膜厚控制精确;

3.单炉生长372”片,极大节约成本。

 

工艺特点:

1.可以低温下淀积极低应力的氮化硅膜;

2.可以实现氮氧化硅(SiON)薄膜的折射率从氧化硅的折射率平滑改变到氮化硅的折射率(1.5~1.9)。



                         

Copylisty@2012 www.sklssl.org all right 电话:86-10-82387780 电子邮件:info@sklssl.org
 欢迎访问我们的网站          京ICP备12043863号-1          制作维护:中国半导体照明网